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          高低溫環(huán)境箱對電子產(chǎn)品的用途
          點擊次數(shù):787 更新時間:2022-12-05

          高低溫箱對電子產(chǎn)品的用途:
          高低溫試驗箱是模擬自然高低溫變化環(huán)境,主要是用來對電子產(chǎn)品進行耐高溫,耐低溫測試檢測產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。
          高低溫試驗箱特點:
          1.箱門與工作室、外殼設(shè)有耐高溫密封條及壓緊裝置,有效的保證箱體的密封性和保溫性能。
          2.高低溫試驗箱的溫控儀采用進口儀表,帶PID調(diào)節(jié),SSR輸出,快速自整定,數(shù)字式顯示,讀數(shù)方便。
          3.有超溫保護及控制回路過載保護、短路保護,使用安全可靠。
          4.工作室及試品架為不銹鋼材料,外箱體為冷軋板噴塑而成,外形美觀。
          5.制冷系統(tǒng)選用法國“泰康"原裝全密封壓縮機,確保高低溫試驗箱的低溫穩(wěn)定性。高低溫試驗箱的日常維護和對主要技術(shù)指標(biāo)的簡易測試,能夠保證高低溫試驗箱的工作處于*狀態(tài)。
          高低溫試驗箱維護保養(yǎng)需要注意的事項:
          高低溫試驗箱工作環(huán)境中的塵埃和腐蝕性氣體亦可以影響機械系統(tǒng)的靈活性、降低各種限位開關(guān)、按鍵、光電偶合器的可靠性,也是造成必須學(xué)部件鋁膜銹蝕的原因之一。
          2.高低溫試驗箱的溫度和濕度是影響儀器性能的重要因素,其可以引起機械部件的銹蝕,使金屬鏡面的光潔度下降,引起高低溫試驗箱機械部分的誤差或性能下降;造成高低溫試驗箱光學(xué)部件如光柵、反射鏡、聚焦鏡等的鋁膜銹蝕,產(chǎn)生光能不足、雜散光、噪聲等,甚至儀器停止工作,從而影響高低溫試驗箱的壽命,維護保養(yǎng)時應(yīng)定期加以校正。
          3.高低溫試驗箱使用一定周期后,內(nèi)部會積累一定量的塵埃,高低溫試驗箱由維修工程師或在工程師指導(dǎo)下定期開啟高低溫試驗箱外罩對內(nèi)部進行除塵工作,同時將各發(fā)熱元件的散熱器重新緊固,對光學(xué)盒的密封窗口進行清潔,必要時對其進行校準(zhǔn),對機械部分進行清潔和必要的潤滑,zui后,恢復(fù)原狀,再進行一些必要的檢測、調(diào)校與記錄。

           第一類是產(chǎn)品的性能參數(shù)不合格,出產(chǎn)的產(chǎn)品不符合運用要求; 第二類是潛在的缺陷,這類缺陷不能用一般的檢驗方法發(fā)現(xiàn),而需求在運用進程中逐漸地被顯露,如硅片表面污染、組織不穩(wěn)定、焊接空泛、芯片和管殼熱阻匹配不良等等。

           一般這種缺陷需求在元器件作業(yè)于額定功率和正常作業(yè)溫度下工作一千個小時左右才華全部被激活(顯露)。顯著,對每只元器件檢驗一千個小時是不現(xiàn)實的,所以需求對其施加熱應(yīng)力和偏壓,例如進行高溫功率應(yīng)力試驗,來加速這類缺陷的提前顯露。

          也就是給電子產(chǎn)品施加熱的、電的、機械的或多種概括的外部應(yīng)力,仿照嚴(yán)厲作業(yè)環(huán)境,消除加工應(yīng)力和剩下溶劑等物質(zhì),使匿伏缺陷提前出現(xiàn),從速使產(chǎn)品通過失效浴盆特性初期階段,進入高可靠的穩(wěn)守時。

          通過高溫老化可以使元器件的缺陷、焊接和裝置等出產(chǎn)進程中存在的風(fēng)險提前顯露,老化后再進行電氣參數(shù)測量,選擇除去失效或變值的元器件,盡可能把產(chǎn)品的前期失效消除在正常運用之用,從面保證出廠的產(chǎn)品能經(jīng)得起時間的檢測。

          隨著電子技術(shù)的發(fā)展,電子產(chǎn)品的集成化程度越來越高,結(jié)構(gòu)越來越細(xì)微,工序越來越多,制造工藝越來越復(fù)雜,這樣在制造過程中會產(chǎn)生一些潛伏缺陷。電子產(chǎn)品在生產(chǎn)制造時,因設(shè)計不合理、原材料或工藝措施方面的原因引起產(chǎn)品的質(zhì)量問題概括有兩類:

          一類是產(chǎn)品的性能參數(shù)不達標(biāo),生產(chǎn)的產(chǎn)品不符合使用要求;

          二類是潛在的缺陷,這類缺陷不能用一般的測試手段發(fā)現(xiàn),而需要在使用過程中逐漸地被暴露,硅片表面污染、組織不穩(wěn)定、焊接空洞、芯片和管殼熱阻匹配不良等等。

          一般這種缺陷需要在元器件工作于額定功率和正常工作溫度下運行一千個小時左右才能全部被激活(暴露)。顯然,對每只元器件測試一千個小時是不現(xiàn)實的,所以需要對其施加熱應(yīng)力和偏壓,例如高低溫老化試驗箱進行高溫功率應(yīng)力試驗,來加速這類缺陷的提早暴露。

          也就是給電子產(chǎn)品施加熱的、電的、機械的或多種綜合的外部應(yīng)力,高低溫老化試驗箱模擬嚴(yán)酷工作環(huán)境,消除加工應(yīng)力和殘余溶劑等物質(zhì),使?jié)摲收咸崆俺霈F(xiàn),盡快使產(chǎn)品通過失效浴盆特性初期階段,進入高可靠的穩(wěn)定期。 

           通過高低溫老化試驗箱的測試可以使元器件的缺陷、焊接和裝配等生產(chǎn)過程中存在的隱患提前暴露,老化后再進行電氣參數(shù)測量,篩選剔除失效或變值的元器件,盡可能把產(chǎn)品的早期失效消滅在正常使用之用,從面保證出廠的產(chǎn)品能經(jīng)得起時間的考驗。



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