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產品列表PRODUCTS LIST
電子產品溫濕度循環(huán)測試方法高低溫試驗箱：
試驗目的
驗證產品及材料在高低溫及大氣濕度條性下。所承受環(huán)境變化的能力。
高低溫循環(huán)試驗目的: 檢驗產品受到長時間冷熱溫度交變作用后熱應力對產品性能的影響作用。溫熱試驗目的:檢驗產品受到高溫高濕環(huán)境時的劣化特性，評價材料的吸濕特性、結露特性，及產品在濕熱環(huán)境下的貯存和使用性能。
濕熱試驗條件
試驗持續(xù)時間(一般最少10個周期，240h，但需要預處理24h,試驗至少需要264h)
試驗以24h為一個循環(huán)周期，最少進行10個周期。一般10個周期足以展現(xiàn)濕熱環(huán)境對大多數(shù)裝備的潛在影響。為了使?jié)駸嵩囼灲Y果更真實地反映裝備耐濕熱環(huán)境的能力，可按有關文件的規(guī)定，延長試驗持續(xù)時間。
溫濕度測試基本范疇是25%RH～95%RH（在20℃～85℃中間）。伴隨著社會的發(fā)展趨勢，測試規(guī)定也愈來愈高，全新的流行溫濕度測試范疇大多數(shù)早已提升到10%RH～98%RH（在溫度10℃～95℃中間）。
試樣制備：
1、低溫測試，要求25±5℃，60±15%裸機，開機4h;
2、高溫測試，要求溫度+55℃，試驗4h;
3、熱沖擊試驗，裸機在關機的情況下，+85℃環(huán)境條件下45min，-40℃環(huán)境條件下試驗45min，兩溫度的轉換時間不大于15秒，進行27個循環(huán)，測試后放置至少兩個小時后進行開機檢測;
4、溫度循環(huán)測試，裸機關機，70℃測試1h，40℃測試1h，-40℃測試1h，每個循環(huán)為三個小時，共27個循環(huán)，測試后放置至少2個小時進行檢測;
5、高溫高濕存貯試驗，在裸機開機狀態(tài)下，試驗溫度調為55℃，濕度93%RH，試驗時間設置為72h，測試后放置2h進行功能、電性能、外觀檢測，再用普通透明膠帶粘附鍵盤，每次持續(xù)時間1分鐘，1分鐘后在1秒內將鍵盤剝離膠帶，共進行3次，檢測鍵盤是否有漆層脫落、鍵盤脫落故障。
試驗步驟：
1、在樣品斷電的狀態(tài)下，先將溫度下降到-50℃，保持4個小時;請勿在樣品通電的狀態(tài)下進行低溫測試，非常重要，因為通電狀態(tài)下，芯片本身就會產生+20℃以上溫度，所以，在通電狀態(tài)下，通常比較容易通過低溫測試，必須先將其“凍透"，再次通電進行測試。
2、開機，對樣品進行性能測試，對比性能與常溫相比是否正常。
3、進行老化測試，觀察是否有數(shù)據(jù)對比錯誤。
4、升溫到+90℃，保持4個小時，與低溫測試相反，升溫過程不斷電，保持芯片內部的溫度一直處于高溫狀態(tài)，4個小時后，執(zhí)行2、3、4測試步驟。
5、高溫和低溫測試分別重復10次。
6、如果測試過程出現(xiàn)任何一次不能正常工作的狀態(tài)，則視為測試失敗。
