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產品列表PRODUCTS LIST
五金高溫低溫測試方法高低溫試驗箱：
1.預處理：將被測樣品放置在正常的試驗大氣條件下，直至達到溫度穩(wěn)定。
2.初步檢測：將測試樣品與標準要求進行比較，滿足要求后直接放入高低溫試驗箱。
3、樣品斷電時，試驗樣品應按標準要求放置在試驗箱內，試驗箱（室）內溫度應降至-50℃，保持4小時；不要在樣品通電狀態(tài)下進行低溫測試，這一步非常重要，因為芯片本身在通電狀態(tài)下會產生 20℃因此，在通電狀態(tài)下，通常更容易通過低溫試驗，必須先凍透，再通電試驗。
4、在低溫階段結束后5min將試驗樣品轉換為已調整的樣品90℃保持在高溫試驗箱(室)內4h或者直到測試樣品達到溫度穩(wěn)定，與低溫測試相反，加熱過程不斷電，芯片內部溫度保持高溫，4小時后執(zhí)行A、B測試步驟。
5、進行老化測試，觀察是否存在數據對比錯誤。
6、高溫和低溫試驗分別重復10次。
7、重復上述實驗方法，以完成三個循環(huán)。根據樣品的大小和空間的大小，時間可能略有誤差。
8、恢復:試驗樣品從試驗箱中取出后，應在正常試驗大氣條件下恢復，直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定。
9、后檢測：根據標準中的損傷程度等方法評估檢測結果。
如果測試過程中沒有正常工作，則視為測試失敗。
